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    3. 北京北廣精儀儀器設備有限公司
      品質(zhì)是生命,服務(wù)是宗旨

      Quality is life, service is the tenet

      網(wǎng)站首頁(yè)  ◇  產(chǎn)品展示    ◇   ◇   介電常數介質(zhì)損耗測試 > GDAT-A介電常數測試儀價(jià)格

      介電常數測試儀價(jià)格

      發(fā)布時(shí)間:  2024-08-13

      產(chǎn)品型號:  GDAT-A

      產(chǎn)品報價(jià):  

      廠(chǎng)商性質(zhì):  生產(chǎn)廠(chǎng)家

      所  在  地:  北京市海淀區上地科技園上地十街1號

      產(chǎn)品特點(diǎn):  ◇主要特點(diǎn):空洞共振腔適用于CCL/印刷線(xiàn)路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹(shù)脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹(shù)脂大約是3, 由于樹(shù)脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì )造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。

      ◇主要技術(shù)特性:介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的

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      產(chǎn)品概述

       介電常數介質(zhì)損耗測試儀裝置:

      2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
      2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
      2.3.3 圓筒電容器線(xiàn)性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
      2.3.4 圓筒電容器可調范圍:±12.5mm(±4.2pF)
      2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
      2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4


      基于串聯(lián)諧振原理的是測試系統的二次儀表,其數碼化主調電容器的創(chuàng )新設計代表了行業(yè)的zui高成就,隨之帶來(lái)了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。該表具有*人機界面,采用LCD液晶屏顯示各測量因子:Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH200KHz-160MHz,頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規定了用Q表法來(lái)測定電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε),把被測材料作為平板電容的介質(zhì),與輔助電感等構成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路,以獲取zui高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實(shí)地反映了介質(zhì)在高頻工作狀態(tài)下的特征。

         GDAT全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡(jiǎn)便。操作者能在任意點(diǎn)頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ,無(wú)須關(guān)注量程和換算,*摒棄了傳統Q表依賴(lài)面板上印制的輔助表格操作的落后狀況,它無(wú)疑是電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。


      介電常數介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標:

      2.1 tanδ和ε性能:

      2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。

      2.1.2 tanδ和ε測量范圍:

      tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

      2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):

      tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

      工作頻率范圍:50kHz~50MHz    四位數顯,壓控振蕩器

      Q值測量范圍:1~1000三位數顯,±1Q分辨率

      可調電容范圍:40~500 pF  ΔC±3pF

      電容測量誤差:±1%±1pF

      Q表殘余電感值:約20nH


      介電常數和介質(zhì)損耗測試儀工作頻率范圍是10kHz~120MHz,它能完成工作頻率內材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

      本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線(xiàn)性電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。

      絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過(guò)公式計算得到。

      同樣,由測微圓筒線(xiàn)性電容器的電容量讀數變化,通過(guò)公式計算得到介電常數。


      介電常數介質(zhì)損耗測試儀電感器:

      按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。

      例如:在1MHz測試頻率時(shí),要配250μH電感器,在50MHz測試頻率時(shí),要配0.1μH電感器等。


      高頻介質(zhì)樣品(選購件):
      在現行高頻介質(zhì)材料檢定系統中,檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測量?jì)x提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。

      該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶(hù)可按需訂購,以保證測試裝置的重復性和準確性。


       介電常數介質(zhì)損耗測試儀特點(diǎn): 

      ◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

      ◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

      ◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

      ◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態(tài)等。

      ◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

      ◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。

      ◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。



      ◆儀器技術(shù)指標:
      Q值測量:
      aQ值測量范圍:5999。 bQ值量程分檔:30、100、300、999、自動(dòng)換檔。
      c.標稱(chēng)誤差
      頻率范圍:25kHz10MHz; 固有誤差:≤5%±滿(mǎn)度值的2%;工作誤差:≤7%±滿(mǎn)度值的2%;
      頻率范圍:10MHz50MHz; 固有誤差:≤7%±滿(mǎn)度值的2%;工作誤差:≤10%±滿(mǎn)度值的2%。
      ☆電感測量:
      a.測量范圍:0.1μH1H。
      b.分 檔:分七個(gè)量程。
      0.11μH, 110μH, 10100μH, 
      0.1lmH, 110mH, 10100mH, 100 mH1H。
      ☆電容測量:
      a.測量范圍:1460pF(460pF以上的電容測量見(jiàn)使用規則);
      b.電容量調節范圍
      主調電容器:40500pF; 度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%;
      微調電容量:-3pF0~+3pF; 度:±0.2pF。
      ☆振蕩頻率:
      a.振蕩頻率范圍:25kHz50MHz;
      b.頻率分檔
      2574kHz, 74213kHz, 213-700kHz, 700kHz1.95MHz,
      1.95MHz5.2MHz, 5.2MHz17MHz, 1750MHz。
      c.頻率誤差:2×10-4±1個(gè)字。
      Q合格指示預置功能,預置范圍:5999。
      ☆儀器正常工作條件
      a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃; b.相對濕度:<80%; c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。 
      ☆試樣尺寸
      圓片形:厚度2+0.5mm,直徑為Φ30~40mm(ε<12時(shí)),Φ25~35mm(ε=12~30時(shí)),Φ15~20mm(ε>30時(shí))
      ☆其他
      a.消耗功率:約25W; b.凈重:約7kg; c. 外型尺寸:(l×b×hmm380×132×280。
      Q合格指示預置功能
      預置范圍:51000。



      ◇主要特點(diǎn):空洞共振腔適用于CCL/印刷線(xiàn)路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹(shù)脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹(shù)脂大約是3, 由于樹(shù)脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì )造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 

      ◇主要技術(shù)特性:介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設定,諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索,Q值量程自動(dòng)轉換,數值顯示等新技術(shù),改進(jìn)了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動(dòng)穩幅等技術(shù),使得新儀器在使用時(shí)更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。


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