空洞共振腔適用于CCL/印刷線(xiàn)路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹(shù)脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹(shù)脂大約是3, 由于樹(shù)脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì )造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。

主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線(xiàn)路。

空洞共振腔適用于CCL/印刷線(xiàn)路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹(shù)脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹(shù)脂大約是3, 由于樹(shù)脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì )造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。

空洞共振腔適用于CCL/印刷線(xiàn)路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹(shù)脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹(shù)脂大約是3, 由于樹(shù)脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì )造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。

介電常數介質(zhì)損耗測試儀專(zhuān)業(yè)供應商，如需請致電詳談。

c類(lèi)數顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數字化阻抗測試儀器。它是根據串聯(lián)諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。配以?shī)A具BH916介質(zhì)損耗裝置還能對固態(tài)絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗（tanδ）和介電常數(ε)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等進(jìn)行測試。

介電常數測試儀

北京北廣精儀儀器設備有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)介電常數測試儀，： ，

基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。